1.穩(wěn)固的工具，分析大部分合金僅需兩秒，識別含輕元素的合金僅需7秒，標準校正可分析合金和貴金屬，涵蓋16種基體及46種元素

2.儀器通常在開機后10秒內做好測量準備，在各種位置（USB驅動器、網(wǎng)絡或打印機）以各種格式同步儲存結果

3.非金屬樣本的合規(guī)測試和快速篩查。視頻攝像頭供準確定位樣本和記錄測量點。

SPECTRO xSORT的手持式ED-XRF光譜儀家族可對迥異條件下的多種材料進行元素測試和光譜化學分析。這些能量色散X射線熒光設備因其堅固性和可靠性而得到認可。它們在數(shù)秒內完成非金屬鑒別，其創(chuàng)新技術和設計成就可重復的實驗室級結果。簡單友好的顯示及高效的人體工程學設計使這些儀器極易使用。SPECTRO xSORT系列光譜儀價格合理，應用廣泛，為同級中之wang者。

經(jīng)過現(xiàn)場驗證的質量

SPECTRO xSORT光譜儀用于工廠、施工現(xiàn)場或條件zui惡劣的野外地點。它們在數(shù)秒內給出實驗室級結果。SPECTRO xSORT經(jīng)過優(yōu)化，可輕松進行現(xiàn)場測量。其設計的每一個方面都清晰體現(xiàn)了對長期可靠性的重視。例如，它的快門和*的iCAL標準化系統(tǒng)允許SPECTRO xSORT持續(xù)校正漂移——免除了每年繁瑣的重新校準。

合金

斯派克xSORT Alloy ? 價格實惠的金屬鑒定

該入門級型號應用創(chuàng)新的硅PIN（Si-PIN）檢測器。無需大量分析即可在數(shù)秒內完成金屬品位鑒別。斯派克xSORT Alloy具有xSORT系列的可靠性和易用性（包括極簡的通過/失敗分揀模式），適用于進料快速檢測和其他用途。

斯派克xSORT AlloyPlus——高級金屬分析

該型號采用頂級硅漂移探測器（SDD），保證了可靠高效的測定和分析能力。僅兩秒即可獲得大多合金的金屬品位分析，并可在7秒內識別基于輕元素（如鋁、鎂、硅、磷和硫）的合金。

它非常適用于廢金屬分揀、材料可靠性鑒定（PMI）和更多用途！

SPECTRO手持式X射線熒光光譜儀

非合金

斯派克xSORT NonAlloy ? 快速元素篩查

我們最大的硅漂移探測器（SDD）幫助提供可靠的非金屬材料測量和分析——性能*。在數(shù)秒內獲得高效點檢測結果，或進行較長時間分析以獲得精確到ppm級的實驗室級結果。非常適用于環(huán)境和RoHS合規(guī)篩查，以及地質勘探和其他領域。

斯派克xSORT NonAlloy應用于XRF RoHS合規(guī)檢測時，操作者不需要切換分析方法，也不需要使用氦氣沖洗或真空系統(tǒng)，即可對各種不同基體類型的樣品分析得到準確結果。作為RoHS合規(guī)檢測設備，它能將結果與儲存的限值進行比較，并自動智能的做出確定超限、合格或者是存疑的判定，指導客戶做出準確判定。

針對更復雜的基體，如在環(huán)境地質類樣品分析中，SPECTRO xSORT無需進行復雜的樣品前處理，即可對相應元素取得極低的檢出限。